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日東精工 電阻率自動(dòng)測(cè)量 用于測(cè)量ITO薄膜特征專用的 4 點(diǎn)探頭可以高精度一鍵式測(cè)量各種材料的電阻率。
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日東精工 電阻率自動(dòng)測(cè)量 用于測(cè)量ITO薄膜
日東精工 電阻率自動(dòng)測(cè)量 用于測(cè)量ITO薄膜
適用于測(cè)量ITO薄膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布以及傳送帶的電阻率分布。
特征
測(cè)量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出可以自動(dòng)化。
(電路板尺寸最大可達(dá) 650 x 650 毫米。)
以三維圖形顯示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。
測(cè)量位置設(shè)置可以通過三種方式一鍵完成:網(wǎng)格輸入和順序輸入。
它可用于廣泛的用途,從研究和開發(fā)到在線抽樣檢查。
有從低電阻率到高電阻率兩種類型。
不受樣品形狀影響,精確測(cè)量表面電阻率[Ω/?]和體積電阻率[Ω?cm]
特征
導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
能夠繪制最大300mm見方的樣品并連續(xù)測(cè)量多個(gè)樣品。
可連接到 Loresta GX 以測(cè)量 10-4 至 10+7Ω 范圍
全自動(dòng)測(cè)量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出
導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
隨著顯示器件(液晶和有機(jī)EL)要求具有更快的響應(yīng)速度和更高的清晰度,電極基板的均勻性變得更加重要。
表面電阻率取決于材料。當(dāng)材料均勻時(shí),薄膜越厚,表面電阻率越低。
在薄膜領(lǐng)域,薄膜厚度變化通過表面電阻率繪圖來評(píng)估。
目的
Hiresta-UX 是一款測(cè)量電阻率的測(cè)量?jī)x器,電阻率是材料的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)之一。
測(cè)量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對(duì)于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制和研發(fā)非常有用。
輕松準(zhǔn)確地測(cè)量材料的表面電阻率和體積電阻率,用于抗靜電材料研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量控制或材料。
該裝置采用符合JIS K6911的測(cè)量方法,可以使用各種探頭測(cè)量塑料、薄膜和油漆等多種材料。為了穩(wěn)定地測(cè)量
10 6
Ω以上的高電阻材料,最好使用雙環(huán)進(jìn)行測(cè)量。 我們的探頭采用雙環(huán)電極。
主要測(cè)量目標(biāo)
抗靜電材料、建筑材料、地板材料、各種紙張、包裝材料、涂料、纖維、混凝土、陶瓷、樹脂、薄膜等。
池田屋實(shí)業(yè)(深圳)有限公司
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